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Los accesorios de prueba de las TIC se utilizan para verificar las condiciones de Abierto y Corto Circuito de los componentes individuales y las redes de circuitos en línea.
El accesorio de prueba de TIC es la abreviatura del probador de circuito integrado, que es una inspección en línea y un accesorio de prueba. Es un equipo de prueba estándar para probar las propiedades eléctricas y las conexiones eléctricas de los componentes en línea para verificar defectos de fabricación y componentes defectuosos.
Los accesorios de prueba de TIC pueden ser la función del dispositivo analógico y la prueba de función lógica del dispositivo digital, una alta cobertura de fallas, para cada tipo de chapa que necesita hacer un lecho de aguja especial, este lecho de aguja en la producción industrial se llama accesorios de prueba de TIC.
Características
Jig de prueba de TIC con un techo universal de un solo lado y doble lado para facilitar el intercambio de tipos de máquinas, el uso de asiento de perrina ajustable, fácil de mantener, el uso de acrílico y bakelita y material fr-4 (o especificado), directo directo Procesamiento de archivos Gerber para generar archivos de perforación, para garantizar la precisión de la perforación. El programa de prueba se genera automáticamente, evitando la posibilidad de errores de entrada manuales aplicables a TRI, Jet, Newsys, Okano, Tescon, Takaya, GWPoshell, SRC, Concord, PTI816 y otros modelos TIC. La distancia central entre dos puntos medidos o puntos medidos y los orificios previamente perforados no debe ser inferior a 0.050 "(1.27 mm). Se prefiere una distancia superior a 0.100" (2.54 mm), seguido de 0.075 "(1.905 mm). La prueba Los puntos del accesorio deben distribuirse de la manera más uniforme posible para asegurarse de que el tablero no cambie de forma después de ser presionado para evitar daños al producto.
Funciones
Los accesorios de prueba de TIC son capaces de verificar el rendimiento eléctrico de los componentes en línea en las placas fabricadas y la conexión de las redes de circuito. Puede medir cuantitativamente resistencias, condensadores, inductores, cristales y otros dispositivos, y probar funcionalmente diodos, transistores, fotocopuladores, transformadores, relés, amplificadores operativos, módulos de fuente de alimentación, etc. También prueba funcionalmente circuitos integrados pequeños y medianos, tales tales como tales. Como todas las 74 series, de tipo memoria, de tipo controlador comúnmente utilizado, tipo de conmutación y otros IC.
Los accesorios de prueba de las TIC detectan defectos del proceso de fabricación y componentes defectuosos al probar directamente el rendimiento eléctrico de los dispositivos en línea. Los componentes se pueden verificar para obtener un valor excesivo, falla o daño, y la memoria se puede verificar en busca de errores del programa. Para la categoría de proceso se puede encontrar, como cortocircuito de soldadura, error de inserción de componentes, inserción del reverso, fugas, deformación, soldadura falsa, circuito corto PCB, cables rotos y otras fallas. Las fallas de la prueba se colocan directamente en los componentes específicos, los pasadores del dispositivo, los puntos de red, la ubicación de la falla es precisa. La reparación de fallas no requiere un conocimiento más especializado. El uso de pruebas automatizadas controladas por el programa, operación simple, pruebas rápidas y rápidas, el tiempo de prueba de un solo tablero generalmente es de unos segundos a decenas de segundos.
La prueba en línea suele ser el primer proceso de prueba en producción, que puede responder oportunamente a la situación de fabricación, y es propicio para la mejora y la mejora del proceso. Los accesorios de prueba de TIC probaron tableros defectuosos, debido a la localización precisa de las fallas, fácil de reparar y pueden mejorar significativamente la eficiencia de producción y reducir los costos de mantenimiento. Debido a sus elementos de prueba específicos, es uno de los medios de prueba importantes para la garantía modernizada de la calidad de la producción de masas.
November 21, 2024
November 20, 2024
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